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NI/PXIe-4190/NI PXIe-4190 PXI LCR 測(cè)試儀
- NI/PXIe-4190/NI PXIe-4190 PXI LCR 測(cè)試儀
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詳細(xì)資料:
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PXle,高達(dá)2MHz,高達(dá)40VPXILCR儀表
PXle-4190可幫助您測(cè)量并測(cè)試電子設(shè)備的電感、電容和電阻(LCR)。它包括一個(gè)具有fF級(jí)電容測(cè)量的LCR表和一個(gè)具有fA級(jí)電流測(cè)量的精密源測(cè)量單元(SMU)。您可以在電容-電壓/電流-電壓(CV/IV)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中使用PXle-4190儀表,其可用于半導(dǎo)體應(yīng)用,包括集成無(wú)源設(shè)備(IPD)、微電子機(jī)械系統(tǒng)(MEM)、多層陶瓷電容器(MLCC)和參數(shù)測(cè)試。此外,PXle-4190還受到NI-DCPower儀器驅(qū)動(dòng)程序的支持,其中包括用于LabVIEW、C、C#.NET、Python和其他編程語(yǔ)言的API。
儀器保證:
我們的大多數(shù)設(shè)備在裝運(yùn)之前均經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的質(zhì)量檢測(cè)與校驗(yàn)。也可申請(qǐng)國(guó)家計(jì)量證書(shū)。