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其它/6362A/Ceyear6362A光譜分析儀
詳細資料:基本概述
Ceyear 6362A 光譜分析儀采用先進的分光技術(shù),支持 600~1700nm 波段范圍的光譜測量,適用于 LED、LD(激光二極管)、SLD(超輻射激光二極管)、DFB-LD(分布反饋激光二極管)、光纖光柵、光學(xué)濾波器等多種光電子元器件及系統(tǒng)的測試。其高分辨率和靈活的功能設(shè)計,使其成為光通信、光電子器件研發(fā)及生產(chǎn)中的理想工具。
特點
最小光譜分辨率:0.05nm,能夠精確分析細微的光譜變化。
光譜掃描范圍:600~1700nm,覆蓋了常見的光電子元器件測試需求。
單縱模激光光譜分析:針對 DFB-LD 等單縱模激光光源,提供閾值分析和邊模抑制比分析,幫助評估中心波長、光譜帶寬和邊模抑制比。
多縱模激光光譜分析:針對 FP-LD 等多縱模激光光源,支持 ndB 損耗分析、包絡(luò)分析和均方根分析,提升測試的全面性。
包絡(luò)分析:可分析光譜的包絡(luò)特征,用于評估器件的整體性能。
峰值檢測:采用自適應(yīng)峰值檢索算法,檢測準確度高,適應(yīng)性強。
損耗分析:支持 ndB 損耗分析,適用于光纖放大器等器件的測試。
可存儲儀器狀態(tài)、用戶數(shù)據(jù)文件、掃描列表文件及波形序列等,支持 USB、RS232C、LAN 和 VGA 接口,便于數(shù)據(jù)傳輸和遠程控制。
動態(tài)范圍最高可達 70dB(大動態(tài)版),適合檢測低功率信號,提升測試精度。
儀器保證:我們的大多數(shù)設(shè)備在裝運之前均經(jīng)過嚴格的質(zhì)量檢測與校驗。也可申請國家計量證書。 |
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