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其它/3260B/Wayne Kerr 3260B 精密磁性元件分析儀

其它/3260B/Wayne Kerr 3260B 精密磁性元件分析儀
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詳細(xì)資料：

產(chǎn)品描述

穩(wěn)科(Wayne Kerr) 3260B是一款專為磁性元件（如電感、變壓器、線圈等）設(shè)計(jì)的精密分析儀，覆蓋頻率范圍20Hz至3MHz，具備0.1%基本精度（英國標(biāo)準(zhǔn)），支持四線式測試以精確測量極低直流電阻（Rdc）、交流電阻（Rs）、電感（L）及品質(zhì)因數(shù)（Q）。其內(nèi)置1A直流偏壓（DC Bias），可擴(kuò)展至250A（選配），支持多點(diǎn)DC Bias與多點(diǎn)頻率自動檢測功能，可直接繪制磁飽和曲線。設(shè)備兼容IEEE488接口，支持Factory View等軟件遠(yuǎn)程控制，適用于研發(fā)、生產(chǎn)及教育領(lǐng)域的高精度磁性元件測試。

主要特點(diǎn)

寬頻測試范圍與高精度：頻率覆蓋20Hz至3MHz，0.1%基本精度符合英國標(biāo)準(zhǔn)，滿足電感、變壓器等元件的精密測量需求。
四線式測試與低阻抗測量：采用四線式測試技術(shù)，可精確測量極低Rdc（直流電阻）、Rs（交流電阻）及高Q值，消除測試線阻抗干擾。
直流偏壓擴(kuò)展能力：內(nèi)置1A DC Bias，選配外部3265B偏壓單元可擴(kuò)展至250A，支持模擬磁性元件在實(shí)際工作狀態(tài)下的偏置電流特性。
多參數(shù)同步測量：支持阻抗（Z）、電感（L）、電容（C）、相位角（Phase）、品質(zhì)因數(shù)（Q）、損耗因數(shù)（D）、圈數(shù)比（Turn Ratio）、漏電感（Leakage Inductance）及層間電容（Interwinding Capacitance）等參數(shù)同步測量。