主要優(yōu)勢

• 快速訪問內(nèi)部FPGA信號
• 在數(shù)秒鐘之內(nèi)進行增量測試而不改變設計時間
• 可訪問多達128種內(nèi)部信號，用于每個調(diào)試專用的針
• 可在狀態(tài)（同步）模式或定時（同步）模式中進行測量

自動設置

• 從FPGA設計工具中自動導入信號名稱
• 自動針映射能減少錯誤，節(jié)省時間

兼容性

• Xilinx設備：Virtex-5、Virtex-4、Virtex-II Pro、Virtex-II和Spratan-3
• 需要Xilinx ChipScope Pro或嵌入式開發(fā)套件（EDK)
• 探頭：飛線、mictor、samtec或軟接觸探頭
• 邏輯分析儀：全部16900系列、16800系列、1680系列、1690系列

B4655A 主要特點

• 查看FPGA的內(nèi)部操作。對調(diào)試專用的每個針腳，您現(xiàn)在可以查看最多64個內(nèi)部信號。
• 可以在幾秒內(nèi)在內(nèi)部探點之間切換。如果沒有這種功能，在邏輯分析儀中移動FPGA內(nèi)部探點需要耗費大量的時間。現(xiàn)在，您只需不到一秒的時間，就可以簡便地測量一套不同的內(nèi)部信號，而不需重新匯編，從而使FPGA定時保持不變。
• 利用您在設計環(huán)境中已經(jīng)完成的工作。FPGA動態(tài)探頭可以把FPGA設計工具的內(nèi)部信號名稱映射到邏輯分析儀上。自動設置總線名稱和信號消除了錯誤，節(jié)約了時間。
• 軟件更新服務，包括1年的節(jié)點鎖定許可。
• 可以用于16900系列主機、1680系列和1690系列邏輯分析儀。
• 探測Xilinx Virtex-II Pro系列、Virtex-II系列和Spartan-3系列設備。