無論您是設(shè)計(jì)電路板、設(shè)備或系統(tǒng)，都希望存儲解決方案能夠在任何復(fù)雜環(huán)境下運(yùn)行而性能毫無損失。我們需要存儲更多數(shù)據(jù)、更快地存取數(shù)據(jù)，以及運(yùn)用存儲解決方案提高數(shù)據(jù)速率。下一代光纖通道的速率達(dá)到 8.5 Gb/s，是目前速率的兩倍，因此設(shè)計(jì)復(fù)雜性急劇增加。無論是在物理層還是在協(xié)議棧上，無論傳輸?shù)氖请娦盘栠�是光信號，以 8.5 Gb/s 的速度進(jìn)行測試都會遇到新的難題。

在開發(fā) 8G 光纖通道設(shè)計(jì)時(shí)，您會遇到各種錯(cuò)綜復(fù)雜的挑戰(zhàn)。無論您是測試電路板、電纜、發(fā)射機(jī)、接收機(jī)還是整個(gè)系統(tǒng)，是德產(chǎn)品組合（包括專為 8G 光纖信道而設(shè)計(jì)的新產(chǎn)品）都可滿足您的需求。是德的產(chǎn)品組合具有以下優(yōu)勢：

• 提供大量試驗(yàn)和強(qiáng)化測試的機(jī)會
• 可對實(shí)際性能進(jìn)行有效的分析
• 通過簡單的設(shè)置和清晰易懂的結(jié)果提高測試的效率

只有是德可以滿足您對物理層、鏈接層、網(wǎng)絡(luò)層和會話層的測試需求，使您能夠輕松地對設(shè)計(jì)和開發(fā)階段以及各開發(fā)周期之間的測試結(jié)果進(jìn)行比較。統(tǒng)一的平臺使您能夠更輕松地測試各種協(xié)議，例如在 PCI EXPRESS® 與光纖信道的交接點(diǎn)上對服務(wù)器內(nèi)部和外部的協(xié)議建立交叉關(guān)聯(lián)。